Epitaxial Ge-crystal arrays for X-ray detection

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Středoevropský technologický institut. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Epitaxní Ge-krystalová pole pro rtg detekci
Autoři	KREILIGER Thomas FALUB Claudiu Valentin ISA Fabio ISELLA G. CHRASTINA D. BERGAMASCHINI R. MARZEGALLI A. KAUFMANN R. NIEDERMANN P. NEELS A. MÜLLER E. MEDUŇA Mojmír DOMMANN Alex MIGLIO Leo VON KANEL Hans
Rok publikování	2014
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Journal of Instrumentation
Fakulta / Pracoviště MU	Středoevropský technologický institut
Citace
www	http://iopscience.iop.org/1748-0221/9/03/C03019
Doi	http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/9/03/C03019
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	Materials for solid-state detectors; Solid state detectors; X-ray detectors
Popis	Monolitická integrace rtg absorbční vrstvy na Si CMOS čipu může být potenciálně přitažlivý způsob zlepšení výkonu detektoru za přijatelných nákladů. Elektrické charakteristiky jednotlivých Ge-Si diod jsou získány z in=situ měření uvnitř skenovacího mikroskopu.
Související projekty:	Research4Industry - Budování a rozvoj vědecko-výzkumné spolupráce s výzkumnými a průmyslovými partnery