Coplanar and grazing incidence x-ray diffraction investigation of self-organized SiGe quantum dot multilayers

• Autoři: HOLÝ Václav; DARHUBER A.A.; STANGL J.; ZERLAUTH S.; SCHAFFER F.; BAUER G.; DAROWSKI N.; LUBBERT D.; PIETSCH U.
• Rok publikování: 1998
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Physical Review B
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: x-ray

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur