Optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries

Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

OHLÍDAL Ivan VIŽĎA František OHLÍDAL Miloslav

Rok publikování 1999
Druh Článek ve sborníku
Konference 18th Congress of the International Commision for Optics: Optics for the Next Millennium
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova multilayer systems; rough boundaries; coherent reflectance; optical characterization
Popis In this contribution examples of the optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries are presented. The method based on measuring and interpreting the spectral dependences of the coherent reflectance is used to determine the values of the optical and statistical parameters of sample of three-layer and thirteen-layer systems exhibiting the rough boundaries. The systems mentioned are formed by thin films of SiO2 and TiO2.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.