Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy

• Název česky: Optické vlastnosti vrstev ZnTe připravených molekulovou svazkovou epitaxií
• Autoři: FRANTA Daniel; OHLÍDAL Ivan; KLAPETEK Petr; MONTAIGNE-RAMIL Alberto; BONANNI Alberta; STIFTER David; SITTER Helmut
• Rok publikování: 2004
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Thin Solid Films
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• www: http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/TSF468_193.html
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: THIN-FILMS; ROUGH BOUNDARIES; SUBSTRATE; GAAS; DEPENDENCE; CONSTANTS
• Popis: V článku jsou studovány optické vlastnosti epitaxních vrstev ZnTe připravených molekulovou svazkovou epitaxií na podložky tvořené monokrystalem GaAs pomocí kombinované optické metody využívající současnou interpretaci experimentálních dat obdržených víceúhlovou spektroskopickou elipsometrií a spektroskopickou reflektometrií. Spektrální závislosti obou optických konstant, tj. indexu lomu a extinkčního koeficientu, charakterizující tyto vrstvy jsou uvedeny ve spektrálním intervalu 230-850 nm. Ukázali jsme, že optické vlastnosti vrstev ZnTe závisí na hodnotě jejich tloušťky. Tento závěr byl nalezen pomocí modelu optických konstant vykazujících profil napříč vrstvami. Drsnost horních rozhraní ZnTe vrstev a existence velmi tenkých přirozených oxidových vrstev na těchto rozhraních jsou brány rovněž v úvahu při provedené optické analýze studovaných vrstev.

Související projekty

• Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou
• Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek