Optical properties of slightly rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Název česky Optické vlastnosti jemně drsných tenkých vrstev LaNiO3 studovaných spektroskopickou elipsometrií a reflektometrií
Autoři

MISTRÍK Jan YAMAGUCHI Tomuo FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan HU Gu Jin DAI Ning

Rok publikování 2005
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Applied Surface Science
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/ASS244_431.html
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova Ellipsometry; Reflectometry; Optical constants; LNO; LaNiO3
Popis Optická charakterizace vrstev LaNiO3 (LNO) deponovaných sol-gel metodou na podložky Si pokryté Pt byla provedena pomocí spektroskopické elipsometrie a reflektometrie. Součet pěti Lorentzových oscilátorů byl užit pro dispersní parametrizaci LNO ve spektrálním oboru 190-1000 nm. Dva teoretic képřístupy: Rayleigh-Riceova teorie (RRT) a aproximace efektivního prostředí (EMA) byly uvažovány při započtení vlivu drsnosti rozhraní. RMS hodnoty výšek nepravidelností obdržené pomocí mikroskopie atomové síly (AFM) a RRT byly 2.09 a 5.62 nm. Tloušťka efektivní vrstvy v rámci přístupu EMA byla zjištěna v hodnotě 4.62 nm. Vyšší hodnoty drsnosti určené pomocí optické metody vzhledem k AFM mohou být vysvětleny efektem konvoluce hrotu AFM a nepravidelností rozhraní.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.