Characterization of polymer thin films deposited on aluminum films by the combined optical method and atomic force microscopy

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Charakterizace polymerních tenkých vrstev deponovaných na hliníkových vrstvách pomocí kombinované optické metody a mikroskopie atomové síly
Autoři	FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr NEPUSTILOVÁ Růžena BAJER Svatopluk
Rok publikování	2006
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Surface and Interface Analysis
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace	FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Petr KLAPETEK, Růžena NEPUSTILOVÁ a Svatopluk BAJER. Characterization of polymer thin films deposited on aluminum films by the combined optical method and atomic force microscopy. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2006, roč. 38, č. 4, s. 842-846. ISSN 0142-2421.
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	ellipsometry; reflectometry; polymer films; AFM
Popis	V tomto článku
Související projekty:	Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek Vývoj metod pro charakterizaci defektů na površích pevných látek Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek