Characterization of polymer thin films deposited on aluminum films by the combined optical method and atomic force microscopy

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Název česky Charakterizace polymerních tenkých vrstev deponovaných na hliníkových vrstvách pomocí kombinované optické metody a mikroskopie atomové síly
Autoři

FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr NEPUSTILOVÁ Růžena BAJER Svatopluk

Rok publikování 2006
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Surface and Interface Analysis
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova ellipsometry; reflectometry; polymer films; AFM
Popis V tomto článku
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.