Near field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Studium rozhraní a povrchů tenkých vrstev pomocí mikroskopie blízkého pole
Autoři	KLAPETEK Petr BURŠÍK Jiří
Rok publikování	2008
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Applied Surface Science
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	NSOM; FDTD; Image artifacts
Popis	In this article, the results of the modeling of topography related artifacts appearing in near-field scanning optical microscopy measurements are presented. The results obtained for near-field scanning optical microscope operation in reflection mode with off-axis far field detector position are compared with experimental results. It is shown that the chosen numerical method-Finite Difference in Time Domain method (FDTD) - can be used for efficient modeling of main topography related artifact. It is also seen that the far field detector position can have large influence on the resulting reflection mode optical images.
Související projekty:	Příprava uhlíkových mikro- a nanostruktur plazmovými technologiemi Analýza optických vlastností solárních článků