Optical characterization of phase changing Ge2Sb2Te5 chalcogenide films

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Optická charakterizace fázově měnitelných Ge2Sb2Te5 chalkogenidových filmů
Autoři	FRANTA Daniel HRDLIČKA Martin NEČAS David FRUMAR Miloslav OHLÍDAL Ivan PAVLIŠTA Martin
Rok publikování	2008
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	physica status solidi (c)
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	thin-films; thermal-stability; dispersion model; rough surfaces; optical constants
Popis	The variable angle spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry is used for the optical characterization of the as-deposited and annealed Ge2Sb2Te5 (GST) films. The dispersion model of the GST films is based on the parameterization of the density of electronic states. As a consequence of annealing, roughness of the upper boundaries of the GST films originates. This annealing also causes the evident redistribution of the density of electronic states from the higher energies to lower energies. The roughening and redistribution of the electrons are explained by means of the phase change of the GST films from amorphous to polycrystalline structure. This phase change is accompanied by changing the conductivity of the films that was proved by introducing the terms of the free carriers in the dispersion model of the CST films.
Související projekty:	Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek Fotonická skla a amorfní vrstvy