Comparative study of multilayers used in monochromators for synchrotron-based coherent hard X-ray imaging

• Název česky: Srovnávací studie multivrstev používaných v monochromátorech pro rtg zobrazování pomocí koherentního tvrdého synchrotronového záření
• Autoři: RACK A.; WEITKAMP T.; RIOTTE M.; GRIGORIEV D.; RACK T.; HELFEN L.; BAUMBACH T.; DIETSCH R.; HOLZ T.; KRÄMER M.; SIEWERT F.; MEDUŇA Mojmír; CLOETENS P.; ZIEGLER E.
• Rok publikování: 2010
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Journal of Synchrotron Radiation
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: multilayer mirrors; X-rays; X-ray optics; coherence; X-ray monochromators; X-ray imaging; X-ray phase contrast
• Popis: Byla prezentována systematická studie, ve které byly charakterizovány multivrstvy s různým složením (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C), periodicitou (od2.5 do 5.5 nm) a počtem vrstev. Konkrétně byly studovány intrinsická kvalita (drsnost a odrazivost) a výkon (koherence a homogenita) vycházejícího paprsku z monochromátoru pro synchrotronové záření při mikrozobrazování tvrdým rtg zářením. Výsledky ukazují, že materiálové složení je dominující faktor pro výkon.

Související projekty

• Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
• Nukleace a růst kyslíkových precipiátů v křemíku