Ellipsometry of Thin Film Systems

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel
Rok publikování	2000
Druh	Kapitola v knize
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Popis	In this paper, a review of both the important theoretical and experimental results concerning ellipsometry is presented.
Související projekty:	Společné laboratoře pro aplikovanou fyziku plazmatu a plazmovou chemii na PřF a PedF MU, VA v Brně a ÚFP AV ČR v Praze Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod