Effect of Structural Imperfections on the Characteristics of YSZ Dielectric Layers Grown by E-beam Evaporation fron the Crystalline Taggets

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Pedagogickou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Název česky Vliv strukturních nedokonalostí na charakteristiky YSZ dielektrických vrstev
Autoři

HARTMANNOVÁ Mária JERGEL Martin NAVRÁTIL Vladislav NAVRÁTIL Karel GMUCOVÁ Katarina GANDARILLA F.C. ZEMEK Jan CHROMIK Stefan KUNDRACIK Frantiaek

Rok publikování 2005
Druh Článek ve sborníku
Konference Acta Physica Slovaca
Fakulta / Pracoviště MU

Pedagogická fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova Yttria stabilized zirconia; thin films; electrical conductivity; microhardness; refractive index; relative permitivity
Popis Merene vrstvicky byly deponovany pomoci e-beam vyparovani na yttriem stabilizovanych zirkoniovych vzorcich na n-dopovanem Si (111) pri teplote 750 C. Mereni elektricke vodivosti a aktivacni energie v zavislosti na koncentraci yttria ukazuje na pritomnost izolovanych kyslikovych iontovych vakanci a s tim spojenych bodovych poruch. Vyledky mereni mechanickych resp. optickych vlastnosti (mikrotvrdost),resp. index lomu ukazuji na vhodnost vyuziti vrstvicek pro ochranné ucely.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.