Mechanical properties of amorphous and nanocrystalline silicon thin films on flexible substrates
Název česky | Mechanické vlastnosti amorfních a nanokrystalických tenkých vrstev křemíku na flexibilních substrátech |
---|---|
Autoři | |
Rok publikování | 2005 |
Druh | Článek ve sborníku |
Konference | NENAMAT International Conference Proceedings NANO05 |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Klíčová slova | Mechanical properties; Amorphous silicon; Nanocrystalline Silicon |
Popis | DSI technika je jedna z nejvhodnějších metod pro sledování mechanických vlastností tenkých vrstev. Byla použita pro studioum tenkých vrstev amorfního a nanokrystalického křemíku deponovaného na flexibilních substrátech. |
Související projekty: |